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硬X射線(xiàn)臺(tái)式吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(RapidXAFS)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

硬X射線(xiàn)臺(tái)式吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(RapidXAFS)只能在各個(gè)同步輻射光源上測(cè)試。由于光源機(jī)時(shí)有限,無(wú)法滿(mǎn)足眾多科研工作者的測(cè)試需求。而近些年,XAFS數(shù)據(jù)已成為了頂級(jí)期刊的“標(biāo)配",致使越來(lái)越多課題組需要XAFS測(cè)試。

產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2024-04-19
廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
訪(fǎng)問(wèn)量:2112

產(chǎn)品分類(lèi)

PRODUCT CLASSIFICATION

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核心優(yōu)勢(shì)

長(zhǎng)久以來(lái),X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜(XAFS)只能在各個(gè)同步輻射光源上測(cè)試。由于光源機(jī)時(shí)有限,無(wú)法滿(mǎn)足眾多科研工作者的測(cè)試需求。而近些年,XAFS數(shù)據(jù)已成為了頂級(jí)期刊的“標(biāo)配",致使越來(lái)越多課題組需要XAFS測(cè)試。秉持著讓XAFS走進(jìn)每個(gè)實(shí)驗(yàn)室的理念,中國(guó)科學(xué)院高能物理研究所和中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)聯(lián)合推出了全新的X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(RapidXAFS)。

硬X射線(xiàn)臺(tái)式吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(RapidXAFS)產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):

多功能:

提供科研級(jí)高質(zhì)量XAFS圖譜

高性能:

1小時(shí)內(nèi)完成1%含量樣品測(cè)試

能量范圍:

4.5-15 keV,可擴(kuò)展至20 keV

高光通量:

>2,000,000 photons/sec@7~9 KeV

測(cè)試元素:

在實(shí)現(xiàn)3d,5d,稀土元素過(guò)渡金屬 XAFS 測(cè)試

簡(jiǎn)單易用:

只需半天培訓(xùn)即可上機(jī)操作

自主可控:

90%部件自主可控,無(wú)政策風(fēng)險(xiǎn)

低維護(hù)成本:

無(wú)需專(zhuān)人維護(hù)、操作、管理等

RapidXAFS具有如下特點(diǎn):

最高光通量產(chǎn)品

光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV,采譜效率數(shù)倍于其他產(chǎn)品;獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質(zhì)量

優(yōu)異的穩(wěn)定性

光源單色光強(qiáng)度穩(wěn)定性?xún)?yōu)于0.1%,重復(fù)采集能量漂移<50 meV

1%探測(cè)極限

高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和較好的光源穩(wěn)定性確保所測(cè)元素含量&gt;1%時(shí)依舊獲得高質(zhì)量EXAFS數(shù)據(jù)

儀器原理

X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(X-ray absorption fine structure,XAFS),是一種研究材料局域原子或電子結(jié)構(gòu)的有力工具,廣泛應(yīng)用于催化、能源、納米等熱門(mén)領(lǐng)域。

主要有以下優(yōu)點(diǎn):

1.不依賴(lài)于長(zhǎng)程有序結(jié)構(gòu),可用于非晶態(tài)材料的研究;

2.不受其它元素干擾,可對(duì)同一材料中不同元素分別研究;

3.對(duì)樣品無(wú)破壞,在大氣環(huán)境下測(cè)試,可進(jìn)行原位測(cè)試;

4.不受樣品狀態(tài)影響,可測(cè)量固體(晶體、粉末),液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等;

5.能獲得配位原子種類(lèi)、配位數(shù)及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù),原子間距精確度可達(dá)0.01A。

實(shí)驗(yàn)室單色儀XES測(cè)試幾何結(jié)構(gòu)

實(shí)驗(yàn)室單色儀XAFS測(cè)試幾何結(jié)構(gòu)

mn.jpg

Mn數(shù)據(jù),Mn K-edge XAFS數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)與同步輻射光源一致

清晰.jpg

Fe樣品Kβ發(fā)射譜數(shù)據(jù):core to core XES 和 valence to core XES

XAFS譜主要包括兩部分:X射線(xiàn)吸收近邊結(jié)構(gòu)(XANES)和擴(kuò)展X射線(xiàn)吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(EXAFS)。EXAFS的能量范圍大概在吸收邊后50 eV到1000 eV,來(lái)源于X射線(xiàn)激發(fā)出來(lái)的內(nèi)層光電子在周?chē)优c吸收原子之間的單電子單次散射效應(yīng)的結(jié)果。XANES包含了吸收邊前約10 eV至吸收邊后約50 eV的范圍,其主要來(lái)源于X射線(xiàn)激發(fā)出的內(nèi)殼層光電子在周?chē)优c吸收原子之間的單電子多重散射效應(yīng)。

測(cè)試數(shù)據(jù)

Foil EXAFS數(shù)據(jù)

微信圖片_20230619114508.jpg

低濃度實(shí)際樣品數(shù)據(jù)(0.5%)                                                       

可測(cè)元素:綠色部分可測(cè)K邊,黃色部分可測(cè)L邊

可測(cè)元素.png

應(yīng)用領(lǐng)域

硬X射線(xiàn)臺(tái)式吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(RapidXAFS)應(yīng)用:

  • 工業(yè)催化

  • 儲(chǔ)能材料

  • 納米材料

  • 環(huán)境毒理

  • 也質(zhì)分析

  • 重元素分析

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